SJT 10804-2000 半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
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ID： |
79D3665592D24F1CB1E0E36E0041D500 |
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文件大小(MB)： |
0.48 |
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页数： |
35 |
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文件格式： |
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日期： |
2009-6-12 |
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ICS 31.,L 55,备案号:,200,8120-2001,中华人民共和国电子行业标准,SJ/T 10804- 2000,半导 体 集 成 电 路,电平转换器测试方法的基本原理,Sem ic on du ct or In teg ra ted c ircuits,General principles of measuring methods for level translator,2000-12-28发布2001-03-01实施,中华人民共和国信息产业部发布,前言,本标 准 在 原国家标准GB 6797-866 半导体集成接口电路电平转换器测试方法的,基本原理》的基础之上进行修订,本标 准 与 GB6 797-86相比，所考虑参数基本相同，技术内容作了相应处理，同时,增加fos参数测试,本标 准 的 编制修订有利于我国半导体集成电路行业的技术交流和经济交流,本标 准 代 替GB6 797-860,本 标 准 由信息产业部提出,本 标 准 由中国电子技术标准化研究所归口,本 标 准 起草单位:中国电子技术标准化研究所,本 标 准 主要起草人:李燕荣,本 标准 首 次发布时间:1986年,目次,1 范围 .1,2 引用标准 .1,3 定义 .1,4 要求..1,5 静态参数测试..1,5.1 输入柑位电压VIK一1,5.2 输入高电平电压Vii ..2,5.3输入低电平电压VIL 3,5.4输出钳位电压Vote..4,5.5输出高电平电压VOH5,5.6 输出高电平闽值电压VoHT 6,5.7输出低电平电压凡:7,5.8 输出低电平闽值电压Vou8,5.9 输入电流It .9,5.10 输入高电平电流IIH，，。 10,5.11输入低电平电流la 11,5.12 输出高电平电流IOH 12,5.13 输出低电平电流IoL 13,5.14 输出高阻态时高电平电流lOZH.. 14,5.15 输出高阻态时低电平电流IOZL.. 15,5.16 电源电流,cc(几。、IEE .. 16,5.17 输出高电平时电源电流ICCH..;.. 17,5.18 输出低电平时电源电流ICCL.. 18,5.19 输出短路电流los 19,6 动态参数测试. . 20,6.1 输入电容C, 2 0,6.2 输出由低电平到高电平传输延迟时间tPLH 2 1,6.3 输出由高电平到低电平传输延迟时间，PHL 22,6.4 输出由高阻态到高电平传输延迟时间IPZH. .. 2 4,6.5 输出由高阻态到低电平传输延迟时间tFZL 25,6.6 输出由高电平到高阻态传输延迟时间tPHZ 27,6.7 输出由低电平到高阻态传输延迟时间tPLZ 28,6.8 输出由低电平到高电平转换延迟时间ITLH. .. 2 9,6.9 输出由高电平到低电平转换延迟时间tTHL 3 1,中华人民共和国电子行业标准,半 导 体 集 成 电 路,电平转换器测试方法的基本原理,SJ/T 10804- 2000,代替GB/T 6797-86,Se mi co nd uc to ri nt eg ra ted c ircuits,General principles of measuring methods for level translator,1 主题内容与适用范围,本 规范 规 定了半导体集成电路电平转换器(以下简称器件)电特性测试方法的基本,原理,本标 准 适 用于半导体集成电路双极型电平转换器电特性的测试,2 引用文件,SJ/ T 1 07 34-% 半导体集成电路文字符号电参数文字符号,3 定义,本 标准 所 有参数符号和定义符合SJ/T1 0734的规定,4 要求,4. 1 若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细,规范的规定.,4.2 测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合,器件详细规范的规定,4.3 测试期间，施于被测器件的电源电压的误差应在规定值的11%以内;施于被测器,件的其他电参量的准确度应符合器件详细规范的规定,4.4 被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件,4.5 被测器件有内部存储或滞后现象时，应规定预置条件,4.6 ;ail试期间。应避免因静电放电而引起器件损伤,静态参数测试,输入 钳位电压VIK,5.1.1 目的,测 试带 有 附加钳位二极管的输入端的输入钳位电压,5.1.2 测试电路图,中华人民共和国信息产业部2000-12-28批准2001-03-01实施,一 1 一,SJ/T 10804- 2000,VIK的测试电路图如图1所示,图 1,5.1.3 测试条件,测试 期 间 ，下列测试条件应符合器件详细规范的规定:,a. 环 境 或参考点温度;,b. 电 源电压;,c. 输 入 端流出电流I,K;,d. 输 出 端开路,5.1.4 测试程序,5.1.4.1 在规定的环境条件下，将被测器件接入测试系统中,5.1.4.2 电源端施加规定的电压,5.1.4.3 被测输入端流出规定的电流爪;其余输入端施加规定的条件,5.1.4.4 在被测输入端测得V,K,5.1.4.5 按本标准5.1.4.3 ^-5.1.4.4的规定，分别测试每个输入端.,5.2 输入高电平电压VIx,5.2. 1 目的,输 出电 压 为规定值时，测试输入端所施加的最小高电平电压,5.2.2 测试电路图,VIH 的 测 试电路图如图2所示,SJ/T 10804- 2000,图 2,5.2.3 测试条件,测 试 期 间，下列测试条……
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